中检智测台式X射线荧光光谱仪ZM-XAA-1-A0是基于X射线荧光光谱技术,通过激发样品产生特征X射线荧光,进而实现非破坏性检测,不改变样本形态的情况下,实现元素成分的分析。分析过程分三个阶段:
激发:当高能X射线照射样品时,会击出原子内层(如K层或L层)电子形成电子空位使原子处于不稳定激发态。
电子跃迁:不稳定状态下,外层电子跃迁以填bu内层空位,跃迁过程中释放特征X射线光子。
元素分析:每种元素的特征X射线具有特定能量值(如Fe的Ka=6.40keV),通过测量这些特征能量实现元素定性分析,信号强度与元素含量成正比,实现定量分析。








































