进入展台在线留言

欢迎联系我

有什么可以帮您？在线咨询

jQuery(document).ready(function () { var xwtkq = Vivian.GetCloseAppKfTalkToUserIDorCompanyID("","134864").value; if (xwtkq == "0") { jQuery("#Consultation").bind("contextmenu click",function () {ChangeTopHeight(0,985734,115065,134864); ); else{ jQuery("#Consultation").hide(); )

电子设备产品分析仪器分类

来源：浙江纳德科学仪器有限公司 2026年02月04日 07:19

function share(types) { var title, imageUrl, url, description, keywords; //获取文章标题 title = document.title; //获取隐藏域中的图片地址 try { imageUrl = document.getElementById("shareimg").innerHTML; catch (e) { imageUrl = ""; //假如图片为空获取网页中的第一张图片地址作为分享图 if (imageUrl == "") { try { imageUrl = document.images[0].src; catch (e) { imageUrl = ""; //获取当前网页url url = document.location.href; url = url.replace("html#", "html"); try { //获取网页描述 description = document.querySelector('meta[name="description"]').getAttribute('content'); catch (e) { description = ""; try { //获取网页关键字 keywords = document.querySelector('meta[name="keywords"]').getAttribute('content'); catch (e) { keywords = ""; //qq空间接口的传参 if (types == 'qzone') { window.open('https://sns.qzone.qq.com/cgi-bin/qzshare/cgi_qzshare_onekey?url=' + url + '&title=' + title + '&pics=' + imageUrl + '&summary=' + description); //新浪微博接口的传参 if (types == 'weibo') { window.open('http://service.weibo.com/share/share.php?appkey=583395093&url=' + url + '&title=' + title + '&pic=' + imageUrl); // //qq好友接口的传参 // if (types == 'qqim') { // window.open('http://connect.qq.com/widget/shareqq/index.html?url=' + url + '&title=' + title + '&pics=' + imageUrl + '&summary=' + description + '&desc=' + keywords); // //生成二维码给微信扫描分享 if (types == 'weixin' || types == 'qqim') { //在线二维码（服务器性能限制，仅测试使用，屏蔽非大陆ip访问） // url = url.replaceAll("-", "%2D"); url=url.replace(/-/g, '%2D') window.open('https://www.a-bm.cn/share.aspx?types=' + types + '&url=' + url);

一、透射电子显微技术TEM
1、分析原理：高能电子束穿透试样时发生散射、吸收、干涉和衍射，使得在相平面形成衬度，显示出图象；
2、谱图的表示方法：明场衍衬象、暗场衍衬象、质厚衬度象、晶格条纹象、和分子象；
3、提供的信息：晶体形貌、微孔尺寸分布、分子量分布、晶格与缺陷、多相结构等。
STEM成像不同于平行电子束的TEM，它是利用聚集的电子束在样品上扫描来完成的，与SEM不同之处在于探测器置于试样下方，探测器接收透射电子束流或弹性散射电子束流，放大后在荧光屏上显示出明场像和暗场像。
入射电子束照射试样表面发生弹性散射，一部分电子所损失能量值是样品中某个元素的特征值，由此获得EELS，利用EELS可以对薄试样微区元素组成、化学键及电子结构等进行分析。

二、扫描电子显微技术SEM
1、分析原理：用电子技术检测高能电子束与样品作用时产生二次电子、吸收电子、X射线、背散射电子等并放大成象；
2、谱图的表示方法：背散射象、吸收电流象、二次电子象、元素的线分布和面分布等；
3、提供的信息：断口形貌、薄膜内部的显微结构、表面显微结构、微区元素分析与定量元素分析等。
入射电子与样品中原子的价电子发生非弹性散射作用而损失的那部分能量，激发核外电子脱离原子，能量大于材料逸出功的价电子从样品表面逸出成为真空中的自由电子，此即二次电子。
二次电子扫描成像
入射电子达到离核很近的地方被反射，没有能量损失;

用背反射信号进行形貌分析时，可根据背散射电子像的亮暗程度，判别出相应区域的原子序数的相对大小，由此可对金属及其合金的显微组织进行成分分析。

三、原子力显微镜AFM
1、分析原理：将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定，另一端有一微小的针尖，由于针尖原子与样品表面原子间存在极微弱的作用力，通过在扫描时控制这种力的恒定，带有针尖的微悬臂将在垂直于样品的表面方向起伏运动。从而可以获得样品表面形貌的信息；
2、谱图的表示方法：微悬臂对应于扫描各点的位置变化；
3、提供的信息：样品表面形貌的信息。
AFM原理：针尖与表面原子相互作用

AFM的扫描模式有接触模式和非接触模式，接触式利用原子之间的排斥力的变化而产生样品表面轮廓;非接触式利用原子之间的吸引力的变化而产生样品表面轮廓。

电子设备产品分析仪器分类

免责声明

凡本网注明“来源：九五至尊网站”的所有作品，均为浙江兴旺宝明通网络有限公司-九五至尊网站合法拥有版权或有权使用的作品，未经本网授权不得转载、摘编或利用其它方式使用上述作品。已经本网授权使用作品的，应在授权范围内使用，并注明“来源：九五至尊网站”。违反上述声明者，本网将追究其相关法律责任。
本网转载并注明自其它来源（非九五至尊网站）的作品，目的在于传递更多信息，并不代表本网赞同其观点或和对其真实性负责，不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时，必须保留本网注明的作品第一来源，并自负版权等法律责任。
如涉及作品内容、版权等问题，请在作品发表之日起一周内与本网联系，否则视为放弃相关权利。

九五至尊网站

电子设备产品分析仪器分类

免责声明